美國博曼（Bowman）Bowman BA-100 Optics 臺式-XRF鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。

型號：BA-100 Optics

更新日期：2021-11-11

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美國博曼（Bowman）Bowman BA-100 Optics 臺式-高性能X射線熒光分析儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。

型號：BA-100 Optics

更新日期：2021-11-11

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-Filmetrics光學膜厚測量儀：F32先進的光譜分析系統采用半寬的3U rack-mount底盤，加上附加的分光計，可達到四個不同的位置（EXR和UVX版本多兩個位置）。F32軟件可以通過數字I/O或主機軟件來控制啟動/停止/復位測量。測量數據可以自動導出到主機軟件中進行統計過程控制。Filmetrics還提供可選的透鏡組件，以便于集成到現有的生產裝置上。

型號：F32

更新日期：2021-11-11

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Niton XRF手持式合金分析儀臺手持式XRF，美國海關及歐盟多國家海關均在使用，美國消費品安全委員會（CPSC）及歐洲產品安全實施委員會（PROSAFE）均在使用，銷量突破30000臺

型號：

更新日期：2021-11-11

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美國博曼（Bowman）Bowman BA-100 Optics 臺式-X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。

型號：BA-100 Optics

更新日期：2021-11-11

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Film Sense FS-1™多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動 式部件橢偏探測器，可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實現快速和可靠地薄膜測量。大多數厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要簡單的 1 秒測量，就 可以獲得非常精密和準確的數據。

型號：Film Sense FS-1™

更新日期：2019-07-25

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-Filmetrics膜厚測量儀 F60-t 系列就像我們的 F50產品一樣測繪薄膜厚度和折射率，但它增加了許多用于生產環境的功能。 這些功能包括凹槽自動檢測、自動基準確定、全封閉測量平臺、預裝軟件的工業計算機，以及升級到全自動化晶圓傳輸的機型。

型號：F60

更新日期：2021-11-11

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-Filmetrics膜厚測量儀-F54系列的產品能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達450毫米 可選擇數十種內建之同心圓,矩形,或線性圖案模式,或自行建立無數量限制之測量點.僅需具備基本電腦技能的任何人可在數分鐘內自行建立配方

型號：F54

更新日期：2021-11-11

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